		スピン偏極電子分光装置・試料から出てくる電子のエネルギーとスピンの方向がわかる．　試料の組成も結晶構造もわかる．・大気圧の１０兆分の１の超高真空中で試料を保持し，　試料温度150Ｋ～1000Ｋにわたって、試料の清浄表面を維持できる．・この装置を使って表面，超薄膜を観察し，これらの磁気的性質を研究しています．
		AFM/MFM Veeco NanoScope Ⅲ ・試料表面の凹凸をナノメータの分解能で観察でき（AFM），また試料表面からの漏れ磁場分布を数十ナノメータの分解能で画像化することもできる（MFM）．
		超高真空極低温STM/AFM ・試料の温度を変え，磁場を印加した状態で試料表面の凹凸を原子分解能で観察するAFM/STM．・磁場: -8～8 T ・試料温度： 2 Ｋ～400 Ｋ・試料クリーニング: イオン銃・真空度： 5 X 10^-11 Torr
		スピンSEM ・試料のナノ領域から出てくる電子のエネルギーとスピンの方向がわかる．　試料の組成も結晶構造もわかる．・大気圧の１０兆分の１の超高真空中で試料を保持し，　試料温度 30Ｋ～400Ｋにわたって，試料の清浄表面を維持できる．・この装置を使って表面，超薄膜，ナノ構造体を観察し，　これらの磁気的性質を研究しています．
		LT-STM/AFM ・導体、絶縁体の表面構造を原子分解能で観察できる。・STS機能によって、導体の状態密度を検出できる。・試料温度：4K～400K ・真空度：5×10^-11Torr
		４プローブ付きSEMシステム・ナノファブリケーションによる電極形成無に、ナノ構造体の電気伝導に関する様々な物性を調べることができる。・試料温度：30K～室温・真空度：1×10^-10 Torr ・SEM分解能：3 nm ・STM機能付き
		PPMS ・電気抵抗、比熱、ゼーベック係数、磁化、トルク、帯磁率測定ができる。・試料温度：2K～400K ・印可磁場：0～±14T
		磁区観察用自作Kerr顕微鏡・磁気カー効果を利用した反射光学顕微鏡で，試料表面の磁化の3成分を分離して磁区観察することができる．・磁場：－1～1 T ・試料温度：室温～200℃
		自作MOKE ・磁気カー効果を利用し，試料表面の微小領域のヒステリシスループを測定することが可能である．・磁場：－500～500 Oe ・ビーム系：＜5 μm

		スピン偏極電子分光装置・試料から出てくる電子のエネルギーとスピンの方向がわかる．　試料の組成も結晶構造もわかる．・大気圧の１０兆分の１の超高真空中で試料を保持し，　試料温度150Ｋ～1000Ｋにわたって、試料の清浄表面を維持できる．・この装置を使って表面，超薄膜を観察し，これらの磁気的性質を研究しています．
		AFM/MFM Veeco NanoScope Ⅲ ・試料表面の凹凸をナノメータの分解能で観察でき（AFM），また試料表面からの漏れ磁場分布を数十ナノメータの分解能で画像化することもできる（MFM）．
		超高真空極低温STM/AFM ・試料の温度を変え，磁場を印加した状態で試料表面の凹凸を原子分解能で観察するAFM/STM．・磁場: -8～8 T ・試料温度： 2 Ｋ～400 Ｋ・試料クリーニング: イオン銃・真空度： 5 X 10^-11 Torr
		スピンSEM ・試料のナノ領域から出てくる電子のエネルギーとスピンの方向がわかる．　試料の組成も結晶構造もわかる．・大気圧の１０兆分の１の超高真空中で試料を保持し，　試料温度 30Ｋ～400Ｋにわたって，試料の清浄表面を維持できる．・この装置を使って表面，超薄膜，ナノ構造体を観察し，　これらの磁気的性質を研究しています．
		LT-STM/AFM ・導体、絶縁体の表面構造を原子分解能で観察できる。・STS機能によって、導体の状態密度を検出できる。・試料温度：4K～400K ・真空度：5×10^-11Torr
		４プローブ付きSEMシステム・ナノファブリケーションによる電極形成無に、ナノ構造体の電気伝導に関する様々な物性を調べることができる。・試料温度：30K～室温・真空度：1×10^-10 Torr ・SEM分解能：3 nm ・STM機能付き
		PPMS ・電気抵抗、比熱、ゼーベック係数、磁化、トルク、帯磁率測定ができる。・試料温度：2K～400K ・印可磁場：0～±14T
		磁区観察用自作Kerr顕微鏡・磁気カー効果を利用した反射光学顕微鏡で，試料表面の磁化の3成分を分離して磁区観察することができる．・磁場：－1～1 T ・試料温度：室温～200℃
		自作MOKE ・磁気カー効果を利用し，試料表面の微小領域のヒステリシスループを測定することが可能である．・磁場：－500～500 Oe ・ビーム系：＜5 μm