装置
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スピン偏極電子分光装置 ・試料から出てくる電子のエネルギーとスピンの方向がわかる. 試料の組成も結晶構造もわかる. ・大気圧の10兆分の1の超高真空中で試料を保持し, 試料温度150K〜1000Kにわたって、試料の清浄表面を維持できる. ・この装置を使って表面,超薄膜を観察し,これらの磁気的性質を 研究しています. |
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AFM/MFM Veeco NanoScope V ・試料表面の凹凸をナノメータの分解能で観察でき(AFM), |
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超高真空極低温STM/AFM ・ 試料の温度を変え,磁場を印加した状態で試料表面の凹凸を 原子分解能で観察するAFM/STM. ・ 磁場: -8〜8 T ・ 試料温度: 2 K〜400 K ・ 試料クリーニング: イオン銃 ・ 真空度: 5 X 10-11 Torr |
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スピンSEM ・試料のナノ領域から出てくる電子のエネルギーとスピンの方向が わかる. 試料の組成も結晶構造もわかる. ・大気圧の10兆分の1の超高真空中で試料を保持し, 試料温度 30K〜400Kにわたって,試料の清浄表面を維持できる. ・この装置を使って表面,超薄膜,ナノ構造体を観察し, これらの磁気的性質を研究しています. |
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LT-STM/AFM ・導体、絶縁体の表面構造を原子分解能で観察できる。 |
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4プローブ付きSEMシステム ・ナノファブリケーションによる電極形成無に、 |
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PPMS ・電気抵抗、比熱、ゼーベック係数、磁化、トルク、帯磁率測定が |
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磁区観察用自作Kerr顕微鏡 ・磁気カー効果を利用した反射光学顕微鏡で,試料表面の磁化の3成分を分離して磁区観察することができる. ・磁場:−1〜1 T ・試料温度:室温〜200℃ |
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自作MOKE ・磁気カー効果を利用し,試料表面の微小領域のヒステリシスループを測定することが可能である. ・磁場:−500〜500 Oe ・ビーム系:<5 μm |